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電壓擊穿試驗儀擊穿的定義

點擊次數(shù):2706  更新時間:2016-01-06

電壓擊穿試驗儀固體電介質(zhì)擊穿 導(dǎo)致?lián)舸┑膠ui低臨界電壓稱為擊穿電壓。均勻電場中,擊穿電壓與介質(zhì)厚度之比稱為擊穿電場強度(簡稱擊穿場強,又稱介電強度)。它反映固體電介質(zhì)自身的耐電強度。不均勻電場中,擊穿電壓與擊穿處介質(zhì)厚度之比稱為平均擊穿場強,它低于均勻電場中固體介質(zhì)的介電強度。固體介質(zhì)擊穿后,由于有巨大電流通過,介質(zhì)中會出現(xiàn)熔化或燒焦的通道,或出現(xiàn)裂紋。脆性介質(zhì)擊穿時,常發(fā)生材料的碎裂,可據(jù)此破碎非金屬礦石。

 

固體電介質(zhì)擊穿

固體電介質(zhì)擊穿有3種形式 :電擊穿、熱擊穿和電化學(xué)擊穿。

電擊穿

電擊穿是因電場使電介質(zhì)中積聚起足夠數(shù)量和能量的帶電質(zhì)點而導(dǎo)致電介質(zhì)失去絕緣性能。熱擊穿是因在電場作用下,電介質(zhì)內(nèi)部熱量積累、溫度過高而導(dǎo)致失去絕緣能力。電化學(xué)擊穿是在電場、溫度等因素作用下,電介質(zhì)發(fā)生緩慢的化學(xué)變化,性能逐漸劣化,zui終喪失絕緣能力。固體電介質(zhì)的化學(xué)變化通常使其電導(dǎo)增加 , 這會使介質(zhì)的溫度上升,因而電化學(xué)擊穿的zui終形式是熱擊穿。溫度和電壓作用時間對電擊穿的影響小,對熱擊穿和電化學(xué)擊穿的影響大;電場局部不均勻性對熱擊穿的影響小,對其他兩種影響大。

熱擊穿

當(dāng)固體電介質(zhì)承受電壓作用時,介質(zhì)損耗是電介質(zhì)發(fā)熱、溫度升高;而電介質(zhì)的電阻具有負溫度系數(shù),所以電流進一步增大,損耗發(fā)熱也隨之增加。電解質(zhì)的熱擊穿是由電介質(zhì)內(nèi)部的熱不平衡過程造成的。如果發(fā)熱量大于散熱量,電介質(zhì)溫度就會不斷上升,形成惡性循環(huán),引起電介質(zhì)分解、炭化等,電氣強度下降,zui終導(dǎo)致?lián)舸?/span>

熱擊穿的特點是:擊穿電壓隨溫度的升高而下降,擊穿電壓與散熱條件有關(guān),如電介質(zhì)厚度大,則散熱困難,因此擊穿電壓并不隨電介質(zhì)厚度成正比增加;當(dāng)外施電壓頻率增高時,擊穿電壓將下降。

電化學(xué)擊穿

固體電介質(zhì)受到電、熱、化學(xué)和機械力的長期作用時,其物理和化學(xué)性能會發(fā)生不可逆的老化,擊穿電壓逐漸下降,長時間擊穿電壓常常只有短時擊穿電壓的幾分之一,這種絕緣擊穿成為電化學(xué)擊穿。

 

 

擊穿的介質(zhì)分為液體和空氣兩種 

液體電介質(zhì)擊穿

純凈液體電介質(zhì)與含雜質(zhì)的工程液體電介質(zhì)的擊穿機理不同。對前者主要有電擊穿理論和氣泡擊穿理論,對后者有氣體橋擊穿理論。沿液體和固體電介質(zhì)分界面的放電現(xiàn)象稱為液體電介質(zhì)中的沿面放電。這種放電不僅使液體變質(zhì),而且放電產(chǎn)生的熱作用和劇烈的壓力變化可能使固體介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生氣泡。經(jīng)多次作用會使固體介質(zhì)出現(xiàn)分層、開裂現(xiàn)象,放電有可能在固體介質(zhì)內(nèi)發(fā)展,絕緣結(jié)構(gòu)的擊穿電壓因此下降。脈沖電壓下液體電介質(zhì)擊穿時,常出現(xiàn)強力氣體沖擊波(即電水錘),可用于水下探礦、橋墩探傷及人體內(nèi)臟結(jié)石的體外破碎。

 

氣體電介質(zhì)擊穿

在電場作用下氣體分子發(fā)生碰撞電離而導(dǎo)致電極間的貫穿性放電。其影響因素很多,主要有作用電壓、電板形狀、氣體的性質(zhì)及狀態(tài)等。氣體介質(zhì)擊穿常見的有直流電壓擊穿、工頻電壓擊穿、高氣壓電擊穿、沖擊電壓擊穿、高真空電擊穿、負電性氣體擊穿等。空氣是很好的氣體絕緣材料,電離場強和擊穿場強高,擊穿后能迅速恢復(fù)絕緣性能,且不燃、不爆、不老化、無腐蝕性,因而得到廣泛應(yīng)用。為提供高電壓輸電線或變電所的空氣間隙距離的設(shè)計依據(jù)(高壓輸電線應(yīng)離地面多高等),需進行長空氣間隙的工頻擊穿試驗。

 

標(biāo)簽:

電壓擊穿試驗儀

介電擊穿強度試驗儀

耐電壓強度擊穿試驗儀

高電壓強度擊穿試驗儀

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